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上海大型检测机构SIR表面绝缘阻抗测试-离子迁移测试

更新时间:2024-09-25 15:34:16 编号:da30qfpg9c2765
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杨先生

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SIR表面绝缘阻抗测试
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上海大型检测机构SIR表面绝缘阻抗测试-离子迁移测试

这种方法有助于评估污染物对组装件可靠度的影响。跟其他方法相比,SIR的优点除了可侦测局部的污染外,也可以测得离子及非离子污染物对印刷电路板(PCB)可靠度的影响,其效果远比其他方法(如清洁度试验、铬酸银试验等)来的有效及方便。

采用合适的统计方法对测试数据进行处理和分析,以评估SIR测试的可靠性。例如,可以采用平均值、标准差等统计指标来分析测试数据。

SIR测试是评估电路板金属导体间短路及电流泄露的重要手段,通过模拟高温高湿环境,施加电压并监测电流变化,确保电路可靠性。

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详细资料

主营行业:检测服务
公司主营:零件清洁度测,可靠性及量测,声压级声功率检测,材料检测
主营地区:深圳、昆山、成都、武汉、烟台、郑州等
企业类型:有限责任公司
公司成立时间:1996-01-01
员工人数:1000 人以上
研发部门人数:201 - 300 人
经营模式:服务型
经营期限:1949-01-01 至 2032-01-01
最近年检时间:2022年
是否提供OEM:
公司邮编:215300
公司电话:0512-57785888-76633
公司邮箱:youerhx_ksmarket@126.com
公司网站:cmc.foxconn.com
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